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仪器型号：荷兰帕纳科（PANalytical）Axios max波长色散X射线荧光光谱仪；日本理学ZSX Primus 波长色散X射线荧光光谱仪等
测试周期：2-5个工作日
X射线荧光光谱测试（XRF）
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。
1. 样品要求
1) 常规测试粉末样品不少于2g，粒度小于 200 目；
2) 块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整），样品在测试之前尽量干燥；
3) 液体样品提供20ml；熔融法测试时请与客服沟通确定样品用量。
2. 注意事项
1) XRF测定元素范围为11号元素钠-92号元素铀，其余元素无法测试，并且受光管Rh靶的影响，测定Rh、Ru、In、Pd这类元素需提前说明；部分仪器可以测到O、F元素，如果需要测到O、F需要备注好；
2) XRF为半定量测试（测得元素加和100%），准确定量需要标样测试。数据默认给氧化物形式的数据，需要元素含量需注明；
3) 默认制样方式为粉末压片，同时可做熔融法，如有需要请提前注明；
4) 样品C元素含量超过10%的，需要将样品提前烧成灰，否则干扰太大可能测不出数据；
5) 过硬或者其他无法压片的材料使用熔融法测试。使用熔融法测试时需详细告知里面各个成分，以确定熔点是否适合。
优点： 1、快速、多元素分析； 2、与化学态无关； 3、非破坏性检测； 4、全元素分析Na-U检测限千分之一； 5、分析厚度1-1000um(跟样品有关)。 缺点： 1、定量困难，一般用作半定量测试； 2、检测限高，千分之一； 3、轻元素（B之前元素无法检测）； 4、一些容易收到干扰，识别错误。
因为需要和硼酸一起压片做，如果样品量太少的，需要加很多硼酸容易导致结果不准确。
XRF测试原则上可以精确到ppm级别的，但这个精度是基于标准物质的，常规的XRF测试只是半定量测试，误差不好判断，当元素含量低于1%时测量会存在误差，仅作为元素含量百分比的参考。
压片法：简单、快速、节省； 熔片法：制样精密度好；均匀性好，样品要求高； 不可用熔片法测试的样品：Pb 、Bi、Sb、Sn、Ag、Hg 的化合物、硫化物、磷和砷的化合物、卤素和能析出卤素的物质、碱金属氧化物、氢氧化物、硝酸盐、亚硝酸盐、氰化物、氧化钡等含有腐蚀坩埚的物质。
片状样品要求表面平整光洁无污染，直径34-38 mm，厚度为3-5 mm的圆柱；只能定性+半定量，如需准确定量最好是粉末，且颗粒大的必须磨成粉。
粉末样无法回收，一般采用硼酸压片，会污染样品。
可以测试，要求块状样品尺寸在 25~40 mm之间，轻质合金（如铝镁合金等）厚度不低于 5 mm，其它合金厚度不小于 1 mm，其它材料厚度需满足 3-5 mm。
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