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仪器型号:日本-JEOL-JXA 8530F;日本-岛津-EPMA-8050G;JXA iHP200F等
测试周期:3-7个工作日
1. 制样要求
1) 粉末、薄膜、块体均可;
2) 合金或复合材料等偏析明显的材料不需要腐蚀,部分材料如果没有明显偏析,可轻微腐蚀出晶界后进行测试。
2. 样品要求
3) 粉末样品:表征粉末表面提供20mg样品以上;表征粉末内部需要提前沟通确认;
4) 块体样品:直径≤20mm,高度≤10mm;样品上下表面平行,待测面需打磨并机械抛光,保证样品表面的平整度。
3. 其它要求
1) 如果样品由于要求不喷金(喷碳)而导致效果不好,测试老师不安排复测;
2) 样品性质稳定无毒,电子束轰击时不能挥发、易燃易爆等;
3) 有机高分子材料与强磁粉末不能测试。
测试结果
点扫
线扫
面扫
电子探针(EPMA)具有显微形貌观察和成分分析的功能,与SEM+EDS相比,电子探针更侧重成分分析。电子探针因出色的微区元素分析能力,特别是对于轻元素如C、N、O以及过渡金属元素的分析,被广泛应用于材料质量解析、失效分析及热处理工艺等研究。
一般来说,需要选定几个点进行点扫标定,根据标定结果,确定线扫、mapping区域的元素含量。
EPMA中成分分析是波谱。
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