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材料测试

简单介绍几句话简单介绍几句话

电子探针(EPMA)

仪器型号:日本-JEOL-JXA 8530F;日本-岛津-EPMA-8050G;JXA iHP200F等

测试周期:3-7个工作日

常规测试

点扫定性(2个点) 点扫定量(2个点) 线扫(一条线) 面扫(1个面)

制样

镶嵌加磨平抛光 磨平抛光 氩离子抛光

镀膜处理

喷金 喷碳

磁性

强磁性材料具体咨询
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    项目介绍

    电子探针

    电子探针X射线显微分析仪,又名微区X射线谱分析仪。可对试样进行微小区域成分分析。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外,还有U元素以后 的元素以外都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针,激发试样中某一微小区域,使其发出特征X射线,测定该X射线的波长和强度,即可对该微区的元素作定性或定量分析。。可以进行点、线扫描(得到成分分布信息)、面扫描(得到成分面分布图像)。相对EDS,检测限更低,有标测试,对于轻元素、微量元素测试精度更高。


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