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仪器型号:日本掘场(Horiba)GD Profiler 2辉光放电光谱仪;美国赛默飞(ThermoScientific)Element GD 辉光放电质谱仪
测试周期:3-10个工作日
辉光放电光谱/质谱(GD-OES/MS)
辉光放电光谱仪属于发射光谱分析仪器,和其它发射光谱仪相比基本工作原理大致相同,就是对一种光源加以利用使被测样品元素处于受激状态,样品元素外层电子由高能态向着低能态返回时,特征光谱被发射出。通过素发射出的特征光谱将样品中含有的元素分析出来。可以分析随时间变化的辉光放电强度信息和随深度变化的元素含量信息。
而辉光放电质谱仪是将辉光放电源当做离子源并且和质谱仪器联接行质谱测定的分析方法。可以对材料中的元素含量进行定量分析。
1. 样品要求
1) 样品尺寸:片状材料直径2cm左右,厚度0.5-2cm,且表面尽量光滑;
2) 粉末大于2g。
2. 注意事项
光谱可以得到时间(S)-强度(V)曲线和深度(um)-百分含量(%)曲线; GDMS可定量元素含量,据此选择合适的方式测定。
要求样品必须导电,一般适用于纯物质中杂质的测试。
最高可以测试到8N,纯度过低(例如2N)数据会相对不准确,纯度超过8N,所有数据结果以检出限形式体现。 相对适合的纯度测试范围是2N-8N。
GD-MS是一种微型破坏性测试,溅射直径8mm。
溅射深度与测试参数、时间相关,一般为几微米到几十微米。 几百nm的薄膜需要看是什么材料,不一定能测。
是的,全元素一共74种元素,不包括惰性元素、CNOH气体元素、放射性元素等不稳定元素。
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