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仪器型号:德国IONTOF TOF-SIMS 5飞行时间二次离子质谱仪
测试周期:3-10个工作日
二次离子质谱(SIMS)
二次离子质谱是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的分子吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子,就可以得到关于样品表面信息的图谱。
1. 样品要求
1) 粉末样品需要50mg;
2) 块状样品长宽1*1cm以内,厚度5mm以内,不能太大,小一些没有问题。
2. 注意事项
1) 粉末样品一般不做深度剖析,只做质谱和mapping;
2) 块体或者薄膜样品请务必做好标记,建议在反面用记号笔(非透明样品)或者双面胶或者标签纸(玻璃透明样品)粘好方便判断;
3) 如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人,需要真空封装好提前预约时间测试。样品在超高真空下必须稳定,无腐蚀性;
4) 建议样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装,不要用有黏性的塑料袋/膜,或者粘胶,会有硅油在样品表面的,会遮盖样品表面的信息,TOF测试1-2nm的信息,对表面测试非常灵敏,如因包装问题导致样品表面污染测试出污染的信息,不做处理。
如果是测试质谱和二维成像,因为没有损伤,可以选取同一个位置进行测试,且采集完正离子后可以继续采集负离子信息;如果是做深度分析,则可以在同一个样品上选取不同的区域,分别测试正离子和负离子。
不能。TOF-SIMS静态二次离子质谱测试离子强度,为定性测试,不能定量。
一般溅射厚度为2到3层原子,小于1nm。
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