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材料测试

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二次离子质谱(SIMS)

仪器型号:德国IONTOF TOF-SIMS 5飞行时间二次离子质谱仪

测试周期:3-10个工作日

二次离子质谱测试

面扫成像(mapping)每区域 深度剖析每h
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    二次离子质谱(SIMS)

    二次离子质谱是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面,使样品表面的分子吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子,就可以得到关于样品表面信息的图谱。

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